一种通过X射线检测含金属被测物的无损检测系统和方法----中国科学院自动化研究所

科研成果

专利名称:	一种通过X射线检测含金属被测物的无损检测系统和方法
专利类别:
申请号:	201210413226.5
申请日期:	2012-10-25
专利号:	ZL201210413226.5
第一发明人:	高阳
其它发明人:	高阳，常红星，李书晓，朱承飞
国外申请日期:
国外申请方式:
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实施情况:
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专利摘要:
其它备注: