基于乘子法的自发荧光断层成像重建方法----中国科学院自动化研究所

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科研成果

专利名称:	基于乘子法的自发荧光断层成像重建方法
专利类别:	发明专利
申请号:	201210523586.0
申请日期:	2012-12-7
专利号:	ZL201210523586.0
第一发明人:	田捷
其它发明人:	郭伟，杨鑫
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要:
其它备注: